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納米粒度儀通過動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)DLS檢測均勻穩(wěn)定樣品的粒徑和粒徑分布。DLS的最佳檢測范圍在幾納米至亞微米范圍。DLS技術(shù)無法有效檢測大顆粒的原因之一是大顆粒通常具有一定的沉降行為，這對(duì)動(dòng)態(tài)光散射的準(zhǔn)確性造成極大的影響。然而對(duì)于一些具有沉降特征的顆粒，可以利用其沉降行為進(jìn)行粒度測試。
BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位分析儀中在0°角設(shè)置一個(gè)PD檢測器，通過檢測透射光的光強(qiáng)隨時(shí)間的變化，檢測沉降樣品的粒度和粒度分布信息。沉降法粒度測試的適合范圍在幾微米至幾十微米，可有效彌補(bǔ)動(dòng)態(tài)光散射對(duì)大顆粒檢測的限制。
在這篇應(yīng)用報(bào)告中，使用百特BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位分析儀、BetterPyc 380多功能真密度儀、Bettersize 2600激光粒度分析儀檢測了一種硅酸鋯粉末的粒度信息。
原理
BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位分析儀基于透射光路檢測樣品的透射光強(qiáng)度，然后基于斯托克斯方程：
計(jì)算體系的粒徑和粒徑分布信息，測試需要對(duì)應(yīng)溫度下分散介質(zhì)的折射率、密度和粘度信息、對(duì)應(yīng)溫度下顆粒物的折射率和密度和樣品體積。
實(shí)驗(yàn)
樣品信息如下：
其中樣品密度通過BetterPyc 380多動(dòng)能真密度儀檢測，樣品的粒徑分別通過BeNano 180 Zeta Max納米粒度及Zeta電位分析儀和Bettersize 2600激光粒度分析儀檢測。
結(jié)果分析和結(jié)論
圖1. 沉降法信號(hào)（上圖）和沉降法粒度分布（下圖）
表1. 沉降法3次測試結(jié)果
圖2. Bettersize 2600激光粒度分析儀分布結(jié)果
表2. 沉降法和激光粒度儀典型值對(duì)照表
由測試結(jié)果可以看出，通過沉降法得到的結(jié)果具有較好的重復(fù)性，D50相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差優(yōu)于5%，沉降法得到的分布結(jié)果和激光粒度分析儀具有較好的可比性。
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