BeNano 180 納米粒度分析儀

簡要描述：BeNano 180 納米粒度分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的采用背向散射技術用于檢測納米顆粒粒度及其分布的光學檢測系統(tǒng)。

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廠商性質：生產廠家
更新時間：2025-09-03
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納米粒度及Zeta電位分析儀

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BeNano 180 納米粒度分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的采用背向散射技術用于檢測納米顆粒粒度及其分布的光學檢測系統(tǒng)。它基于動態(tài)光散射原理，樣品分散在樣品池中，通過激光照射到樣品上，光電檢測器在背向 173°角檢測樣品顆粒布朗運動造成的散射光強隨時間的波動，再通過相關器進行自相關運算得出樣品的自相曲線，結合數(shù)學方法就可以得到顆粒的擴散系數(shù)，進一步利用斯托克斯 - 愛因斯坦方程就得到樣品的粒度結果。

BeNano 180 納米粒度分析儀

基本性能指標

粒徑檢測

粒徑范圍	0.3 nm – 10 μm
最小樣品量	40 μL
檢測角度	173°
分析算法	Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

分子量測試

分子量范圍

342 Da – 2 x 10⁷ Da

微流變測試

測試能力	均方位移、復數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量

趨勢測試

模式

時間和溫度

系統(tǒng)參數(shù)

溫控范圍	-15°C - 120°C
冷凝控制	干燥空氣或者氮氣
標準激光光源	50 mW 高性能固體激光器， 671 nm
相關器	快、中、慢多模式，最快25 ns采樣，最多 4000通道，10¹¹動態(tài)線性范圍
檢測器	APD （高性能雪崩光電二極管）
光強控制	0.0001% - 100%，手動或者自動

檢測參數(shù)

●流體力學直徑 D_H

●分布系數(shù) PD.I

●擴散系數(shù) D

●顆粒間相互作用力因子 k_D

●顆粒體系的光強、體積、面積和數(shù)量分布

●分子量

●溶液粘度和折光指數(shù)

●溶液流變學信息G*，G‘，G“，η*，J

檢測技術

●動態(tài)光散射

●靜態(tài)光散射

選配件

●動靜態(tài)流動模式

BeNano動靜態(tài)流動模式（Flow Mode）是將納米粒度及Zeta電位儀同一個分離前端（FFF、GPC/SEC）相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進行分離，依次流出。通過檢測每個流出組分的動態(tài)光散射信號和靜態(tài)光散射號，并結合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號，得到高分辨率且不依賴于計算模型的粒徑分布、分子量分布信息。